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产品系列
塞贝克系数/电阻分析系统 CTA-4 (超低温版)
测试参数:电导率/电阻率、热电势率/塞贝克系数
温度范围:4K-300K(-269℃—室温)
低温技术:低温制冷机作冷源,无需消耗液氮/液氦
概 述:
本系统采用低温制冷机作冷源,无需使用液氮/液氦,实现固体材料低温区(4K-300K; -269℃—室温)的电学性能(电导率/电阻率,热电势率/塞贝克Seebeck系数)和可选热学性能(热导率、热膨胀系数、比热等)测量单元。
系统设计思想
在一个以单台或多台制冷机为冷源的低温平台上,集成全自动的电学和热学物性测量手段。使得整个系统的低温环境得到充分利用、极大减少了客户购买仪器的成本、避免实验的繁琐和误差。低温平台与测量平台分离设计,测试样品更换过程变得快捷、方便。
基本系统
硬件结构包括:样品架组件、插入管组件、真空绝热系统、制冷机、减震传热部件、控温部件、干式泵、氦气罐、测控仪表和数据采集处理系统等。基本系统平台提供低温环境,以及测量相关的软硬件控制中心。
样品室
样品室连接在样品架组件上,通过可拆卸方式安装不同物性测量样品台。测量时样品室处于密封的真空状态,样品冷却过程是通过减震传热部件把制冷机冷量传递给样品架组件,再通过测试平台把冷量传递给样品,使样品降温。样品测量采用样品托的方式。
温度控制
采 用制冷机直接冷却样品的方式,通过减震传热部件既减少制冷机的轻微震动可能带来的影响,又保证了样品能够快速冷却。通过独特的设计能够实现连续快速精准温 度控制。温控范围:4.0K-300K连续控温;温度稳定性:±0.1K(4.0-20K)/ ±0.3K(20-300K)。
全球甄选一流供货商,保证系统品质达到**!
CTA系统硬件组成:
美国吉时利 Keithley(数据采集系统)
德国 W.HALDENWANGER (高温陶瓷系统)
英国摩根Morgan(高温特种材料)
美国通用电气GE(光波加热元件)
瑞典康泰尔 Kanthal (加热元件)
美国精量电子 MEAS(传感器)
日本IKO (精密轴承)
日本住友Sumitomo (低温制冷机系统)
塞贝克系数测量单元
电阻率测量单元
技术参数
电阻率测量单元
测量范围: | 10 μS/m~10 S/m |
测量精度: | 优于1% |
样品尺寸: | 长:4~20mm;宽:1~3mm;高:1~3mm |
塞贝克系数测量单元
测量范围: | 1μV/K~1V/K |
测量精度: | 优于6% |
样品尺寸: | 长:5~20 mm;宽:2~3 mm;高:2~3 mm |