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无液氦干式超导磁体
扫描热探针塞贝克导热系数仪STPM-1000
2-欧米伽法纳米薄膜热导测试系统TCN-2ω
激光导热系统TC1200RH
激光导热系统T9000系列
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产品系列
产品描述
热电性能分析系统 ZEM-3
说明:此产品售前技术交流服务和售后技术服务由北京柯锐欧科技负责,确保国内用户享受到*专业的技术支持!
技术特点:
温度检测采用R型热电偶
标准搭载欧姆接触自我诊断程序并输出V/I图表
基于日本工业标准JIS (热电能JIS 电阻率JIS R 1650-2)
试样支架采用独特的接触式平衡机构,保证测量的高重现性
采用高级数据采集技术,避免电路板数据采集技术带来的干扰误差
ZEM-L | ZEM-LS | ZEM-3M8 | ZEM-3M10 | |
测量温度 | -80℃-100℃ | -100℃-500℃ | RT-800℃ | RT-1000℃ |
控温精度 | ±0.5K | |||
测量原理 | 塞贝克系数:静态直流电;电阻系数:四端法 | |||
测量范围 | 塞贝克系数:0.5μV/K_25V/K; 电阻系数:0.2Ohm-2.5KOhm | |||
分辨率 | 塞贝克系数:10nV/K;电阻系数:10nOhm | |||
测量精度 | 塞贝克系数:<±7%; 电阻系数:<±10% | |||
样品尺寸 | 直径或正方形:2 to 4 mm2 ×6 to 23mm长 | |||
热电偶导距 | 4,6,8 mm (或定制) | |||
电流 | 0 to 160 mA | |||
气氛 | 减压He |